高速信号测试 SI实验试场地租凭

产品概述：

  信号完整性（SI, Signal Integrity），定义为信号在电路中能以正确时序和电压做出回应的能力。广义上讲，信号完整性指的是在高速产品中由互连线引起的所有问题。SI解决的是信号传输过程中的质量问题，尤其是在高速领域，数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现

     博达实验室，工程师具有多年研究背景，测试手段很多，涉及的仪器也很多，因此熟悉各种测试手段的特点，以及根据测试对象的特性和要求，选用适当的测试手段，对于选择方案、验证效果、解决问题等硬件开发活动，都能够大大提高效率，起到事半功倍的作用。如果您需要类似的测试方案，欢迎您来电咨询，我真诚的期待与您合作。

示波器的主要介绍：

Tektronix

DPO5104

Keysight

MSO804A

Tektronix

DPO73304DX

LeCroy

SDA845Zi-A

图片

模拟带宽

1 GHz

8 GHz

33 GHz

45GHz

采样率

5 GS/s

20 GS/s

100 GS/s

120GS/s

模拟通道

4

4

4

4

高速信号测试项目：   

   Clock：时钟信号（Clock Signal），有固定的时钟频率，于同步电路当中，扮演计时器的角色，保证相关的电子组件得以同步运作；测试主要分析精度和时序

    I2C：Inter-IC bus，共两条连续总线，SCL和SDA。测试主要分析SCL和SDA之间的时序。

    SPI：串行外设接口（Serial Peripheral Interface），高速的，全双工，同步的通信总线。测试主要分析clock、data_in、data_out、CS#之间的时序；

    SMI：串行管理接口（Serial Management Interface），也被称作MII管理接口（MII Management Interface），包括MDC和MDIO两条信号线。测试主要分析MDC和MDIO之间的时序；

MII接口的类型有很多，常用的有MII、RMII、SMII、SSMII、SSSMII、GMII、RGMII、SGMII、TBI、RTBI、XGMII、XAUI、XLAUI等。

    SGMII：串行千兆媒体独立接口（serial gigabit media independent interface），SGMII是MAC和PHY之间的串行接口。测试主要分析SGMII_RX 和SGMII_TX的Eye Pattern；

    DDR：双倍速率同步动态随机存储器（Dual Data Rate），其全称为DDR SDRAM，而DDR3则是DDR的第三代产品。测试主要分析DDR3的DQ、DQS、AD、RAS、CAS等时序；

    SFP+：可插拔光学收发器接口，传输速率为10.3125Gbps。测试主要分析SFP+_TX的Eye Pattern；

    QSFP：四通道的SFP+接口的可插拔光学收发器接口，传输可达到40Gbps以满足更高速率的要求。测试主要分析QSFP_TX的Eye Pattern；

    PCIe：高速串行计算机扩展总线标准（peripheral component interconnect express），速串行点对点双通道高带宽传输。测试主要分析PCIe_TX和PCIe_RX的Eye Pattern；

URAT：通用异步收发传输器（Universal Asynchronous Receiver/Transmitter)，通常称作UART。它将要传输的资料在串行通信与并行通信之间加以转换。作为把并行输入信号转成串行输出信号的芯片，UART通常被集成于其他通讯接口的连结上。

    MII：MII是英文Medium Independent Interface的缩写，翻译成中文是“介质独立接口”，该接口一般应用于MAC层和PHY层之间的以太网数据传输，也可叫数据接口。（MAC与PHY间的管理接口一般是MDIO）

    HDMI：高清多媒体接口（High Definition Multimedia Interface，HDMI）是一种全数字化视频和声音发送接口，可以发送未压缩的音频及视频信号。HDMI可用于机顶盒、DVD播放机、个人计算机、电视、游戏主机、综合扩大机、数字音响与电视机等设备。HDMI可以同时发送音频和视频信号，由于音频和视频信号采用同一条线材，大大简化系统线路的安装难度。

    MIPI：MIPI联盟，即移动产业处理器接口（Mobile Industry Processor Interface 简称MIPI）联盟。MIPI（移动产业处理器接口）是MIPI联盟发起的为移动应用处理器制定的开放标准和一个规范。

    USB：Universal Serial Bus（通用串行总线），标准的数据通信方式，现已发展到USB 4.0，测试主要分析接收端HOST、Device和发送端TP1

    PCI：Peripheral Component Interconnect(外设部件互连标准)，是一种同步的独立于处理器的32位或64位局部总线。测试主要分析PCI_TX和PCI_RX的Eye Pattern；

    XAUI：其中的“AUI”部分指的是以太网连接单元接口（Ethernet Attachment Unit Interface）。“X”代表罗马数字10，它意味着每秒万兆(10Gbps)。

    SFI：sfi接口SFI (SFP+high speed serial electrical interface）接口是一种基于交流耦合的差分低电压高速接口，用于连接PHY和40G/100G光模块。测试主要分析SFI_TX的Eye Pattern；

    SATA：SATA是Serial ATA的缩写，即串行ATA。它是一种电脑总线，主要功能是用作主板和大量存储设备（如硬盘及光盘驱动器）之间的数据传输。

DDR测试举例：

Part No.

Measurement

Min.

Max.

Test Value

Unit

Results

U7

Clock Speed Grade

-

-

600.015

MT/s

Informational Only

tCK(avg), rise

-

-

3.333

ns

Informational Only

tCK(avg), fall

-

-

3.333

ns

Informational Only

tCK(abs), rise, min

-

-

3.278

ns

Informational Only

tCK(abs), rise, max

-

-

3.380

ns

Informational Only

tCK(abs), fall, min

-

-

3.273

ns

Informational Only

tCK(abs), fall, max

-

-

3.388

ns

Informational Only

Part No.

Measurement

Min.

Max.

Test Value

Unit

Results

U7

SlewR of DQ min

-

-

2.4866

GV/S

Informational Only

SlewR of DQS min

-

-

4.7998

GV/S

Informational Only

SlewR of CK min

-

-

0.8292

GV/S

Informational Only

SlewF of DQ min

-

-

2.7007

GV/S

Informational Only

SlewF of DQS min

-

-

5.2773

GV/S

Informational Only

SlewF of CK min

-

-

0.7657

GV/S

Informational Only

Part No.

Measurement

Min.

Max.

Test Value

Unit

Results

U7

tDQSQ Max

-

240

45

ns

Pass

tHP

-

-

1.428

ns

Informational Only

tQHS Max

-

340

252

ps

Pass

tQH Min

1.088

-

1.573

ns

Pass

tDQSCK max

-

400

163

ns

Pass

tDQSCK min

-400

-

32

ns

Pass

Clock Tests - tJIT(duty)

Clock Tests - all but tERR(nper)

Clock Tests - tJIT(cc)

Clock Tests - tERR(2per), tERR(3per)

Part No.

Parameter

Specification

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U48

Trigger

-

-

1

1

Informational Only

Clock Speed Grade

-

-

1.333e+09

T/s

Informational Only

tCK(avg)rise

-

-

1.500

ns

Informational Only

tCK(avg)fall

-

-

1.500

ns

Informational Only

tCK(abs)risemin

1.420

-

1.482

ns

Pass

Part No.

Parameter

Specification

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U48

SlewR of DQ min

-

-

3.03414

GV/S

Informational Only

SlewR of DQS min

-

-

7.29091

GV/S

Informational Only

SlewR of CK min

-

-

5.89943

GV/S

Informational Only

SlewF of DQ min

-

-

2.7615

GV/S

Informational Only

Part No.

Parameter

Specification

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U48

tDQSQ Max

-

125.0

101.3

ps

Pass

tQSH Min

400.0

-

472.8

mtCK(avg)

Pass

tQSL Min

400.0

-

514.5

mtCK(avg)

Pass

tQH Min

380.0

-

539.7

mtCK(avg)

Pass

Clock Tests - Waveforms acquired used to measure

Clock Frequency

Clock Tests - all but tERR(nper)

Clock Tests - tERR(2per) to tERR(5per)

SATA举例测试：

关于我们实验室————

BDCOM博达实验室坐落于上海浦东张江高科技园区，拥有二十多年的技术累积，搭建了成熟完善的测试平台，可以提供硬件测试外包服务和测试仪器租凭服务！